布魯克微米納米壓痕劃痕儀

CETR-APEX壓痕和劃痕測試儀，配備6容易互換的機械頭，高倍率顯微鏡和成像模塊（AFM和3維形貌儀）。

請求專家測試，目睹和了解更多信息

6種機械頭

•壓痕頭 - 用于測量硬度，薄膜、超薄涂層和疏松材料的彈性模量。

•納米劃痕頭 - 通常使用的納米厚度的薄膜和超薄涂層（DLC，ALD，太陽能薄膜（ITO），光學鍍膜等）

•微壓痕頭 -用來測量硬度，薄膜、涂層和塊體材料的楊氏模量

•微劃痕頭 - 通常為微米級厚度的涂層（PVD，CVD，涂料，裝飾涂料等）

•宏刮頭 - 通常用于厚的涂層和塊體材料

•微米/納米摩擦學頭 - 用于測量磨損，靜態和動態摩擦，壽命，附著力，粘滑，等（薄膜和厚膜/涂層和塊體材料）

特點和亮點

該平臺配有防振臺，隔聲隔熱外罩，以確保環境的穩定

•3板式電容傳感器實現超高精度的位移測量

•用戶自定義的分析算法或模型來計算材料的性能

•ASTM，DIN和ISO標準